DIN EN 60749-38-2008 半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法

作者:标准资料网时间:2024-05-23 18:19:09 浏览:9481 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part38:Softerrortestmethodforsemiconductordeviceswithmemory(IEC60749-38:2008);GermanversionEN60749-38:2008
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
【标准号】:DINEN60749-38-2008
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2008-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速的;α辐射;α辐射线;气候试验;组件;损伤;缺陷;定义;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;集成电路;干扰;测量;机械测试;电力电子学;半导体器件;半导体;测试;测试条件
【英文主题词】:Accelerated;Alpharadiation;Climatictests;Components;Damage;Defects;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Interferences;Measurement;Mechanicaltesting;Powerelectronics;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:德语

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