ANSI/TIA/EIA 455-130-2001 激光二极管的抗高温寿命试验

作者:标准资料网时间:2024-05-26 08:05:56 浏览:8647 来源:标准资料网

【英文标准名称】:ElevatedTemperatureLifeTestforLaserDiodes
【原文标准名称】:激光二极管的抗高温寿命试验
【标准号】:ANSI/TIA/EIA455-130-2001
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2001
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光电子学;激光二极管;电子工程
【英文主题词】:optoelectronics;electronicengineering;laserdiodes
【摘要】:theprocedureisintendedtocharacterizethegradualdegradationmodespresentintelecommunicationlaserdiodes.ThedatageneratedwillbeanalyzedfollowingstandardproceduresofTIA/EIA610.
【中国标准分类号】:L51
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:
【正文语种】:英语

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