MIL-DTL-82967A
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MIL-DTL-82967A, DETAIL SPECIFICATION: SQUIB, ELECTRIC SQ85 (8 AUG 2002)., This specification covers the SQ85 Electric Squib, referred to herein as the squib.
【英文标准名称】:Wallsshieldingagainstionizingradiation;leadbricks,recommendationsforuse
【原文标准名称】:防电离辐射的屏蔽墙.铅砖.应用说明
【标准号】:DIN25407Bb.1Bb.-1974
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part9:WafertowaferbondingstrengthmeasurementforMEMS(IEC62047-9:2011);GermanversionEN62047-9:2011
【原文标准名称】:半导体器件.微型机电器件.第9部分:微机电系统硅片的硅片键合强度试验(IEC62047-9-2011).德文版本EN62047-9-2011
【标准号】:DINEN62047-9-2012
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2012-03
【实施或试行日期】:2012-03-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Bonding;Components;Compounds;Compression;Connections;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Intermediatelayers;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microsystemtechniques;Properties;Semiconductordevices;Specification(approval);Strengthofmaterials;Surfacetreatment;Symbols;Systemengineering;Testing;Visualinspection(testing);Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:德语
